產(chǎn)品列表
PROUCTS LIST
不同物體的反射率不同，這主要取決于樣品物質(zhì)本身的特性(如材質(zhì)成分、表面粗糙度等）、入射光的波長和入射角度等，所以我們能通過反射光譜信息獲取樣品的成分組成等信息。反射包括鏡面反射和漫反射兩種類型。反射率是光到達樣品表面后反射部分的能量相對于原始參考光譜的百分比，反射測量與透射測量方法基本是一致，可以用如下公式表達：
1. 反射測量儀器搭建方案
整套儀器由微型光纖光譜儀（含軟件）、光源、透反射樣品支架、反射探頭和標準反射白板組成，如下圖示意：
具體配置清單：
| 產(chǎn)品名稱 | 型號 | 數(shù)量 |
| 微型光纖光譜儀 （含免費配套軟件） | RGB-ER-CL/ RGB-VIS-NIR-CL/ RGB-NIR-CL | 1 |
| 光源 | HLS-1鹵鎢燈光源/ FCLS-LED系列光纖耦合LED光源等 | 1 |
| 樣品支架 | ST-RT 透反射樣品支架 | 1 |
| 反射探頭 | ZR系列反射探頭 | 1 |
| 反射白板 | 漫反射標準白板 | 1 |
2. 儀器介紹
2.1 微型光纖光譜儀
a) RGB-ER-CL微型光譜儀采用交叉非對稱C-T光路結(jié)構(gòu)，配置先進的CMOS探測器，是一款結(jié)構(gòu)緊湊、攜帶方便的通用型微型光纖光譜儀，適用于科研及工業(yè)生產(chǎn)的光譜測量應(yīng)用，具有高靈敏度、高分辨率、高量子效率和高動態(tài)范圍的特點。
b) RGB-ER-CL微型光譜儀響應(yīng)范圍為200～1000nm，狹縫為25μm，分辨率為1.5nm。RGB-VIS-NIR-CL的波長范圍為400～1100nm，狹縫為25μm，分辨率為1.0nm。用戶也可以選擇不同的光柵配置，得到不同的光學(xué)分辨率和光譜響應(yīng)范圍，以滿足不同的應(yīng)用需求。另外針對其它波段如200～900nm/200～1000nm/300～1100nm/700～1100nm等可以提供定制。
c) RGB-NIR-CL近紅外光譜儀是一款高性能近紅外光譜儀，可測量波長范圍950 nm～1700 nm，分辨率~10 nm (@ 25 µm狹縫)。
d) 以上所有微型光譜儀均免費提供配套光譜測量軟件KewSpec。該軟件包含查看、保存、讀取光譜圖和數(shù)據(jù)，以及積分時間、Boxcar平滑和信號平均等信號處理等基本功能，還包含光譜測量、吸光度、透過率、反射率等應(yīng)用測量模式。操作界面簡潔明了，易于上手。
2.2 光源
根據(jù)待測樣品的特征波長范圍選擇合適的光源，如HLS-1鹵鎢燈光源、FCLS-LED光纖耦合LED光源等。
HLS-1鹵鎢燈光源波長范圍360~2500nm，可直接出光或也可由SMA905端口連接光纖耦合輸出。輸出光強度可調(diào)，光源前端設(shè)有支架，可根據(jù)需要安裝濾光片或衰減片。
FCLS-LED系列光纖耦合LED光源提供多種單色光和白光（400-700nm）可選，其他波長也可支持定制。該光源可連續(xù)輸出或脈沖輸出，強度與頻率可調(diào)。結(jié)構(gòu)緊湊，性能可靠，輸出光功率非常穩(wěn)定。
2.3 透反射樣品支架
透反射樣品支架是常用的光譜測量附件，與反射探頭聯(lián)用可實現(xiàn)反射光譜測量，與兩根光纖跳線聯(lián)用可實現(xiàn)透射光譜測量。ST-RT透反射樣品支架包括可調(diào)滑軌、底座、樣品調(diào)整座以及兩個CL-UV準直透鏡。底座設(shè)有積分球的定位孔，可以快速準確的放置積分球。該產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于硅、金屬、玻璃、塑料、珠寶等樣品的透射和反射光譜測量。
2.4 反射探頭
KEWLAB提供的ZR系列反射探頭具有堅實耐用、穩(wěn)定性高、插入損耗和反射損耗低等特點。ZR系列反射探頭是理想的選擇，采用6包1光纖排布，既可測量鏡面反射，也可測量漫反射。光源的信號光由光纖一端傳導(dǎo)至待測樣品，然后作用光由反射探頭進行探測并將其傳輸至光譜儀。根據(jù)待測樣品的實際特性和檢測應(yīng)用需求，可以選擇不同類型的反射探頭。
反射探頭覆蓋光譜范圍：190-2200nm；
光纖芯徑可選范圍：200、400、600μm等；
標準長度：0.5m、1m、2m，其它長度支持定制；
外殼包層材料：金屬或塑料。
2.5 反射白板
標準反射白板是用于反射率測量的標準漫反射參考物，適合于測量各種的粗糙樣品的表面反射率。該白板采用高品質(zhì)PTFE材質(zhì)，在200-2500nm寬光譜波段提供90%以上反射率，其中350-1500nm波段反射率≥98%和250-2200nm波段反射率≥95%。
