產(chǎn)品列表
PROUCTS LIST
- 磁力攪拌器
- 振蕩器/混勻儀
- 離心機(jī)
- 移液器
- PCR梯度擴(kuò)增儀
- 高速均質(zhì)器
- 蠕動(dòng)泵
- 恒流泵
- 防腐蝕隔膜真空泵
- 冷水機(jī)
- 電子天平
- 智能消解器
- 超聲波細(xì)胞破碎儀
- 超聲波清洗機(jī)
- 水分儀
- 光纖光譜儀及測(cè)量附件
- 德國(guó)JENOPTIK
- 顯微鏡
- 激光光斑分析儀
- 照度計(jì)
- 光譜測(cè)量光源
- 積分球
- 光學(xué)鏡片
- 意大利LaserPoint
- 德國(guó)Omicron
- 德國(guó)APE
- 美國(guó)FJW
- 德國(guó)Xiton Photonics
- 荷蘭Delta Elektronika
- 美國(guó)NOIR
- 激光器及附件
半微量分析天平的稱(chēng)量操作規(guī)程
點(diǎn)擊次數(shù):476 時(shí)間:2024-10-18
半微量分析天平的稱(chēng)量操作規(guī)程非常重要,因?yàn)檫@種儀器用于稱(chēng)量極小質(zhì)量的樣品,任何微小的誤差都可能影響實(shí)驗(yàn)結(jié)果。以下是半微量分析天平的稱(chēng)量操作規(guī)程,供參考:
半微量分析天平稱(chēng)量操作規(guī)程
1.準(zhǔn)備工作
環(huán)境準(zhǔn)備:
確保稱(chēng)量環(huán)境潔凈,避免塵埃和雜質(zhì)影響稱(chēng)量結(jié)果。
使用防風(fēng)罩以減少空氣流動(dòng)對(duì)稱(chēng)量的影響。
確保稱(chēng)量臺(tái)面平穩(wěn),避免震動(dòng)。
儀器檢查:
確認(rèn)半微量分析天平處于正常工作狀態(tài),定期校準(zhǔn),確保準(zhǔn)確性。
檢查天平的電源和顯示屏,確保無(wú)故障。
稱(chēng)量容器準(zhǔn)備:
選擇適當(dāng)?shù)姆Q(chēng)量容器,如鉑盤(pán)或稱(chēng)量紙,確保其干燥且潔凈。
使用抗靜電的容器(如抗靜電塑料)以減少靜電對(duì)稱(chēng)量的影響。
2.稱(chēng)量操作步驟
開(kāi)機(jī)預(yù)熱:
打開(kāi)天平,進(jìn)行預(yù)熱,通常需要至少30分鐘,以保證穩(wěn)定性。
校準(zhǔn):
根據(jù)天平的使用說(shuō)明書(shū),進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)和標(biāo)準(zhǔn)砝碼校準(zhǔn),確保準(zhǔn)確性。
去皮:
將準(zhǔn)備好的稱(chēng)量容器放在天平的稱(chēng)量盤(pán)上,按去皮(Tare)按鈕,將天平歸零。
樣品稱(chēng)量:
小心將待稱(chēng)量樣品加入稱(chēng)量容器中,避免樣品散落或揮發(fā)。
輕輕關(guān)閉防風(fēng)罩,待天平穩(wěn)定后讀取質(zhì)量值。
記錄數(shù)據(jù):
記錄稱(chēng)量結(jié)果,確保記錄清晰、完整。
如有必要,進(jìn)行多次稱(chēng)量,取平均值以提高準(zhǔn)確性。
清理:
稱(chēng)量結(jié)束后,清理稱(chēng)量盤(pán)和周?chē)鷧^(qū)域,保持儀器清潔。
3.注意事項(xiàng)
靜電防護(hù):在稱(chēng)量過(guò)程中,注意防止靜電對(duì)樣品和稱(chēng)量結(jié)果的影響。可以使用防靜電設(shè)備或用抗靜電手套操作。
樣品處理:避免用手直接接觸樣品,盡量使用鑷子或工具。
溫度適應(yīng):避免將溫度較高或較低的樣品直接放入天平,防止影響讀數(shù)。
操作人員:在稱(chēng)量時(shí),盡量保持靜止,避免身體或衣物產(chǎn)生的氣流影響結(jié)果。
4.維護(hù)與保養(yǎng)
定期對(duì)天平進(jìn)行校準(zhǔn)和維護(hù),確保其長(zhǎng)期處于良好狀態(tài)。
定期清理天平及其周?chē)鷧^(qū)域,避免灰塵和雜質(zhì)影響測(cè)量結(jié)果。
避免在潮濕或極端溫度的環(huán)境中使用天平。
總結(jié)
半微量分析天平的稱(chēng)量操作規(guī)程強(qiáng)調(diào)了環(huán)境、設(shè)備、操作過(guò)程和維護(hù)保養(yǎng)等多個(gè)方面。遵循這些規(guī)程,可以提高稱(chēng)量的準(zhǔn)確性和可靠性,為實(shí)驗(yàn)結(jié)果提供有效支持。